Elemente de Testare Automată Curs 01 s.l. dr. ing. Rajmond JÁNÓ

Prezentarea disciplinei Structura activității: 2C + 4L Forma de verificare: examen grilă 36 întrebări, 0.25 puncte/întrebare + 1 punct Structura notei finale: 30% evaluare laborator 70% examen scris

Bibliografie Dan Pitică, Mihaela Radu – „Elemente de testare pentru sisteme electronice”, ed. Microinformatica, 2001 Rajmond Jánó, Gabriel Chindriș - „Hardware and Software Testing Principles: Hands-on Training Guide”, ed. Mediamira, 2016 www.ael.utcluj.ro Informații pt studenți → Cursuri → ETA

Ce aşteptaţi din partea cursului? Ce elemente ne interesează din punctul de vedere al testării: componente plachete aparate sisteme analogice sisteme digitale sisteme mixte

Conţinutul materiei Introducere în testarea automată Caracterizarea defectelor Metode de generare a vectorilor de test Metode şi tehnici de compresie a datelor Proiectarea pentru testabilitate Standarde de testare Metode de test indirecte

Introducere în testarea automată Contextul evoluţiei domeniului Conţinutul unei experienţe de test Metode de test Tehnici de test pentru plachete Strategii de testare

Contextul evoluţiei domeniului Consecinţe induse de progresului tehnologic concentrarea unui număr din ce în ce mai mare de funcții la nivelul chipurilor obținerea unor densități sporite de componente, chipuri și trasee pe plachete

Contextul evoluţiei domeniului Wafer beyond Scale 2000 μBGA 2000’s Fine Pitch 1990’s DIP 1970’s

Contextul evoluţiei domeniului Orientarea testării la nivelul plachetei spre perfecționarea metodelor și tehnicilor de test pentru interconexiunile realizate pe placă între chip- uri implementarea conceptelor referitoare la proiectarea pentru testabilitate, Design for Test (DFT) în engleză integrarea unor funcții de test sau auxiliare operațiilor de testare la nivelul chip-urilor

Conţinutul unei experienţe de test Ce urmărim prin efectuarea unei acţiuni de testare? Să identificăm dacă sistemul este fără defecte? Nu! Să identificăm prezenţa unui anumit tip de defect (sau un set de defecte) Gradul de încredere în rezultatele testelor

Conţinutul unei experienţe de test Ilustrarea unei experienţe de test simple Generator secvențe de test CST (DUT) Model funcțional Comparator PASS/FAIL Secvență de test Secvență de referință Secvență de ieșire

Conţinutul unei experienţe de test Ilustrarea unei experienţe de test simple Generator secvențe de test CST (DUT) Model funcțional Comparator PASS/FAIL Secvență de test Secvență de referință Secvență de ieșire Compactor Imagine de referință Imagine de ieșire

Conţinutul unei experienţe de test Există două categorii mari de teste: Teste parametrice Statice Dinamice Teste funcţionale, desfăşurate în condiţii: Parametrice impuse

Etapele experienţelor de test Determinarea secvenţei de test care pune în evidenţă defectele căutate; Obţinerea secvenţei de referinţă şi eventual a imaginii referinţă; Aplicarea secvenţei de test CST; Citirea răspunsului CST; Compactarea răspunsului CST (dacă este cazul); Compararea răspunsurilor sau a imaginilor acestora; Determinarea unui grad de încredere asupra rezultatului testului efectuat

Metode de test În funcție de natura secvențelor de test Metode deterministe Metode aleatoare Metode pseudoaleatoare

Secvențele de referință Metode de test Metode de test Deterministă Pseudo-aleatoare Aleatoare Secvențele de test Reproductibilă Nereproductibilă Secvențele de referință Cunoscută Necunoscută Imaginea de referință Nu se determină Metoda de comparare Metoda directă Analiza de semnătură Test compact static

Tehnici de test pentru testarea automată a plachetelor electronice Testarea funcțională a ansamblului placă statică; dinamică sau de performanţă; în sistem;

Informaţii necesare pentru un test funcţional Configurația sistemului - tipurile de plăci din sistem: digitale, analogice, mixte. Descrierea circuitului electric pe plăci - listele de legături dintre componente și orientarea acestora de la ieșiri spre intrări. Descrierea topologică a plăcii: plasarea circuitelor pe placă. Modelele pentru componente (biblioteci de componente): numărul de circuite dintr-o capsulă; modelul funcțional (analogic sau logic); tehnologia de realizare; Modelele pentru defecte (dicționare de defecte) prin care se descriu modul de manifestare pe placă a fiecărui tip de defect.

Tehnici de test pentru testarea automată a plachetelor electronice Testarea IN CIRCUIT Izolarea circuitului Protecția ieșirilor cuplate în nodurile forțate Pini de test SENZOR/DRIVER

Deosebiri între diferite tipuri de teste IN CIRCUIT IN CIRCUIT digital funcțional IN CIRCUIT analogic clasic (parametric) IN CIRCUIT analogic funcțional Placă alimentată Placă nealimentată Teste funcționale (cu condiții parametrice) Teste parametrice Teste funcționale Orice tip de circuit logic Numai componente pasive și dispozitive În principiu orice tip de circuit analotig

Tehnici de test pentru testarea automată a plachetelor electronice Testarea combinată Izolarea unui sector pe placă prin metode specifice tehnicii IN CIRCUIT Testele aplicate sunt funcționale

Strategii de testare Start big Start small Strategia Tehnici utilizate Cost/placă S1 Test de continuitate Test combinațional Test funcțional în sistem $9.00 S2 Test IN CIRCUIT $4.40 S3 Test funcțional de performantă $3.00

Gradul de încredere în rezultatul testelor Fn- undetected failed products N = G + B = G + (Fn + Fd) N – total number of products G – defect free (good) products B – products with defects (bad) Producătorul calitatea testului Utilizatorul calitatea produselor 𝐶 𝑇 = 𝐺+ 𝐹 𝑑 𝑁 𝐶 𝑈 = 𝐺 𝐺+ 𝐹 𝑛

Gradul de încredere în rezultatul testelor Fn- undetected failed products N = G +B = G + (Fn + Fd) 3 10.000 50 Producătorul calitatea testului Utilizatorul calitatea produselor 𝑪 𝑻 = 𝐺+ 𝐹 𝑑 𝑁 = 10.000−50−3 +50 10.000 =𝟗𝟗,𝟗𝟕% 𝑪 𝑼 = 𝐺 𝐺+ 𝐹 𝑛 = 10.000−50−3 10.000−50−3 +3 =𝟗𝟗,𝟗𝟔%

Cursuri online www.ael.utcluj.ro Informații pt studenti – Materiale didactice – Elemente de Testare Automată