Έλεγχος Ορθής Λειτουργίας VLSI Κυκλωμάτων σε Υπομικρονικές Τεχνολογίες με Παρατήρηση του Ρεύματος Ηρεμίας I DDQ Έλεγχος Ορθής Λειτουργίας VLSI Κυκλωμάτων.

Slides:



Advertisements
Παρόμοιες παρουσιάσεις
αναγνωρίζει μια ημιτονοειδή κυματομορφή
Advertisements

ΠΜΣ ΠΡΟΗΓΜΕΝΑ ΣΥΣΤΗΜΑΤΑ ΠΛΗΡΟΦΟΡΙΚΗΣ Κατεύθυνση ΤΕΔΑ Τεχνολογίες Διαχείρισης Ασφάλειας Security Management Engineering Τμήμα Πληροφορικής ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ.
ΕΝΟΤΗΤΑ 10Η Η ΓΛΩΣΣΑ VHDL: ΑΚΟΛΟΥΘΙΑΚΑ ΚΥΚΛΩΜΑΤΑ
Μνήμη και Προγραμματίσιμη Λογική
Εργαστηριακή Εκπαίδευση με χρήση του Διαδικτύου
ΕΘΝΙΚΟ ΚΑΙ ΚΑΠΟΔΙΣΤΡΙΑΚΟ ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΑΘΗΝΩΝ ΤΜΗΜΑ ΠΛΗΡΟΦΟΡΙΚΗΣ ΚΑΙ ΤΗΛΕΠΙΚΟΙΝΩΝΙΩΝ ΕΡΓΑΣΤΗΡΙΟ ΟΠΤΙΚΩΝ ΕΠΙΚΟΙΝΩΝΙΩΝ ΠΕΡΙΓΡΑΦΗ ΦΩΤΟΝΙΚΩΝ ΚΡΥΣΤΑΛΛΩΝ Οι φωτονικοί.
Ομάδα Σχεδίασης Μικροηλεκτρονικών Κυκλωμάτων
Μνήμες RAM Διάλεξη 12.
ΕΝΟΤΗΤΑ 3Η ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑ CMOS
Τεστ Ρεύμα - Αντίσταση.
ΠΡΟΗΓΜΕΝΑ ΨΗΦΙΑΚΑ ΣΥΣΤΗΜΑΤΑ
Χαμηλή κατανάλωση σε Δίκτυα Η εικόνα της Χαμηλής Κατανάλωσης από την οπτική γωνία των ολοκληρωμένων κυκλωμάτων.
ΕΝΟΤΗΤΑ 5η Ενισχυτές Μετρήσεων
Τμήμα Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών
Ηλεκτρονική Ενότητα: 4 Διπολικά Τρανζίστορ (BJT) Αγγελική Αραπογιάννη
Ηλεκτρονική Ενότητα 5: DC λειτουργία – Πόλωση του διπολικού τρανζίστορ
ΕΝΟΤΗΤΑ 11 Η ΠΡΟΓΡΑΜΜΑΤΙΖΟΜΕΝΟΙ ΛΟΓΙΚΟΙ ΠΙΝΑΚΕΣ (PROGRAMMABLE LOGIC ARRAYS)  Οι λογικοί Πίνακες ως γεννήτριες συναρτήσεων  Επίπεδα AND-OR και OR-AND.
ΗΛΕΚΤΡΟΠΝΕΥΜΑΤΙΚΑ ΣΥΣΤΗΜΑΤΑ ΑΥΤΟΜΑΤΙΣΜΟΥ.
Σχεδίαση Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων Ενότητα Α-Κεφάλαιο 3: Οξείδωση του πυριτίου Αγγελική Αραπογιάννη Τμήμα Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών.
5. ΕΙΔΙΚΕΣ ΔΙΟΔΟΙ 5.1 Δίοδος Ζένερ.
Ηλεκτρονική Ενότητα 6: Η AC λειτουργία του διπολικού τρανζίστορ
ΕΝΟΤΗΤΑ 7η Μετατροπείς Ψηφιακού Σήματος σε Αναλογικό (DAC)
Ταυτοποίηση Μη-Γραμμικών Συστημάτων Τοποθέτηση του Προβλήματος: Συμβατική Ταυτοποίηση (Conventional Identification): έχουμε πρόσβαση τόσο σε δεδομένα της.
Γεώργιος Παπαϊωάννου, ΙΕΕΕ, ACM, SIGGRAPH member, Θεοχάρης Θεοχάρης, Εργαστήριο Γραφικών Τμήμα Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών.
ΠΑΡΑΔΟΣΕΙΣ ΜΑΘΗΜΑΤΟΣ «ΜΙΚΡΟΫΠΟΛΟΓΙΣΤΕΣ 1» ΕΙΣΑΓΩΓΗ ΟΚΤΩΒΡΙΟΣ 2005.
«ΜΕΛΕΤΗ ΟΠΤΙΚΩΝ ΔΙΚΤΥΩΝ ΜΕ ΧΡΗΣΗ ΠΟΛΥΠΛΕΚΤΩΝ AWG» Επιστημονικός Υπεύθυνος: Θ. Σφηκόπουλος Κύριοι Ερευνητές: Θ. Καμαλάκης ΜΕΛΕΤΗ ΔΙΑΦΩΝΙΑΣ ΣΤΑ AWG Το ύψος.
Μικροεπεξεργαστές Λειτουργία - Εξέλιξη
ΕΣΩΤΕΡΙΚΗ ΑΝΤΙΣΤΑΣΗ ΜΠΑΤΑΡΙΑΣ
Αντιστάσεις συνδεδεμένες σε γέφυρα
Εισαγωγή στην Ηλεκτρονική
ΑΡΧΙΤΕΚΤΟΝΙΚΗ ΥΠΟΛΟΓΙΣΤΩΝ ΣΧΕΔΙΑΣΗ ΑΝΑΛΟΓΙΚΩΝ & ΨΗΦΙΑΚΩΝ ΣΥΣΤΗΜΑΤΩΝ
P2P ARCHITECT PROJECT (IST ) Διασφάλιση της αξιοπιστίας εφαρμογών ομότιμων προς ομότιμων κόμβων (peer to peer) στο επίπεδο της αρχιτεκτονικής.
Ο χρήστης του συστήματος Billing Mall έχει στη διάθεσή του ένα πολύ απλό εργαλείο που του επιτρέπει την παρακολούθηση και την ηλεκτρονική πληρωμή των λογαριασμών.
Αποδοτική Ισοστάθμιση Ασύρματων Τηλεπικοινωνιακών Διαύλων Βασισμένη σε Ομαδοποίηση Αποδοτική Ισοστάθμιση Ασύρματων Τηλεπικοινωνιακών Διαύλων Βασισμένη.
Μοντελοθεωρητική Σημασιολογία για την Άρνηση στο Λογικό Προγραμματισμό Το Πρόβλημα: Η σημασιολογία της άρνησης στο Λογικό Προγραμματισμό (negation-as-failure)
ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ ΦΥΣΙΚΗ ΔΙΔΑΣΚΩΝ ΚΑΘΗΓΗΤΗΣ: ΦΩΤΙΑΔΗΣ Α. ΔΗΜΗΤΡΗΣ M.Sc.
« Καινοτομία και Εφαρμοσμένη έρευνα στο Τ.Ε.Ι. Στερεάς Ελλάδας στα πλαίσια της πράξης Αρχιμήδης ΙΙΙ» Περπινιάς Ιωάννης Υποέργο 7: «Διασύνδεση Διεσπαρμένης.
ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑ ΠΡΟΗΓΜΕΝΩΝ ΨΗΦΙΑΚΩΝ ΚΥΚΛΩΜΑΤΩΝ ΚΑΙ ΣΥΣΤΗΜΑΤΩΝ (Rabaey et al Example 5-16) Γιώργος Σαρρής6631 ΠΑΝΕΠΙΣΤΗΜΙΟ ΠΑΤΡΩΝ ΤΜΗΜΑ ΗΛΕΚΤΡΟΛΟΓΩΝ ΜΗΧΑΝΙΚΩΝ.
1 Ηλεκτρονική Διπολικά Τρανζίστορ Ένωσης (Ι) Bipolar Junction Transistors (BJTs) (Ι) Φώτης Πλέσσας Τμήμα Μηχανικών Η/Υ, Τηλεπικοινωνιών.
Τεχνολογία προηγμένων ψηφιακών κυκλωμάτων και συστημάτων
Συστήματα CAD Πανεπιστήμιο Θεσσαλίας Σχολή Θετικών Επιστημών
Ηλεκτρονική MOS Field-Effect Transistors (MOSFETs) (I) Φώτης Πλέσσας
Ανάλυση διακοπτικών κυκλωμάτων με την
Aρχές Ηλεκτρολογίας και Ηλεκτρονικής Μερικές βοηθητικές σημειώσεις
Σημασιολογική Διαχείριση και Επεξεργασία Πολυμεσικών Μεταδεδομένων
Ροή Η: Ηλεκτρονική-Κυκλώματα-Υλικά
Διάλεξη 9: Συνδυαστική λογική - Ασκήσεις Δρ Κώστας Χαϊκάλης
Πρόγραμμα Κ. Καραθεοδωρή 2010
Σχεδίαση CMOS Ψηφιακών Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων
Παπαγεωργίου Κωνσταντίνος, ΠΕ70
Πτυχιακή Εργασία Καυκαλούδη Ευθυμία Μουσκεφτάρα Δήμητρα
Χωρητικότητα πύλης - καναλιού ως συνάρτηση του βαθμού κορεσμού.
“Ψηφιακός έλεγχος και μέτρηση της στάθμης υγρού σε δεξαμενή"
ΕΞΟΜΟΙΩΣΗ SPICE ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΗ ΜΕΤΑΦΟΡΑΣ ΤΑΣΗΣ CMOS ΑΝΤΙΣΤΡΟΦΕΑ
ΕΣΩΤΕΡΙΚΗ ΑΝΤΙΣΤΑΣΗ ΜΠΑΤΑΡΙΑΣ
ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑ ΠΡΟΗΓΜΕΝΩΝ ΨΗΦΙΑΚΩΝ ΚΥΚΛΩΜΑΤΩΝ ΚΑΙ ΣΥΣΤΗΜΑΤΩΝ
Ψηφιακή Σχεδίαση εργαστήριο
Δ. Κλιγκόπουλος Επιβλέπων: Β. Σπυρόπουλος, Καθηγητής
ΠΑΡΑΛΛΗΛΗ ΣΥΝΔΕΣΜΟΛΟΓΙΑ ΑΝΤΙΣΤΑΣΕΩΝ
ΑΝΤΙΛΗΨΕΙΣ ΚΑΙ ΣΧΕΣΕΙΣ ΕΠΑΓΓΕΛΜΑΤΙΩΝ ΥΓΕΙΑΣ ΣΤΟ ΧΩΡΟ ΤΟΥ ΝΟΣΟΚΟΜΕΙΟΥ
Exercise 4.5 Rabaey Όνομα Α.Μ. Έτος Κεττένης Χρίστος 6435 E΄
ΣΥΝΔΕΣΜΟΛΟΓΙΕΣ ΚΥΚΛΩΜΑΤΩΝ ΦΩΤΙΣΜΟΥ
Ροή Η: Ηλεκτρονική-Κυκλώματα-Υλικά
Λιβέρη Δήμητρα Επιβλέπων: Γκρίτζαλης Δημήτρης
Καθηγητής Πανεπιστημίου Αθηνών
« به نام خدا» 1-جايگاه ايران در توزيع جهاني درآمد
Εργασίες 9ου – 10ου Εργαστηρίου
ΑΝΤΙΣΤΑΤΕΣ & ΑΝΤΙΣΤΑΣΕΙΣ
Μελέτη ηλεκτρικών ιδιοτήτων του οξειδίου του Υττρίου (Υ2Ο3)
Илмий раҳбар доц.в.б.Тастанов Н.А.
Μεταγράφημα παρουσίασης:

Έλεγχος Ορθής Λειτουργίας VLSI Κυκλωμάτων σε Υπομικρονικές Τεχνολογίες με Παρατήρηση του Ρεύματος Ηρεμίας I DDQ Έλεγχος Ορθής Λειτουργίας VLSI Κυκλωμάτων σε Υπομικρονικές Τεχνολογίες με Παρατήρηση του Ρεύματος Ηρεμίας I DDQ Τοποθέτηση του Προβλήματος: Καθώς οι διαστάσεις στις Τεχνολογίες CMOS μειώνονται (νανοτεχνολογίες) η αποτελεσματικότητα των τεχνικών ελέγχου με παρατήρηση του ρεύματος ηρεμίας (I DDQ ) φαίνεται να περιορίζεται διότι: το ρεύμα διαρροής των τρανζίστορ στην κανονική λειτουργία αυξάνει, ενώ μειώνεται η διαφορά του από το ρεύμα διαρροής παρουσία σφάλματοςτο ρεύμα διαρροής των τρανζίστορ στην κανονική λειτουργία αυξάνει, ενώ μειώνεται η διαφορά του από το ρεύμα διαρροής παρουσία σφάλματος ο αριθμός των τρανζίστορ/chip αυξάνει δραματικά, αυξάνοντας ακόμη περισσότερο το ρεύμα κανονικής λειτουργίαςο αριθμός των τρανζίστορ/chip αυξάνει δραματικά, αυξάνοντας ακόμη περισσότερο το ρεύμα κανονικής λειτουργίας Αποτέλεσμα: Αδυναμία διάκρισης μεταξύ κανονικής και εσφαλμένης λειτουργίας με βάση το ρεύμα διαρροής. Καθώς οι διαστάσεις στις Τεχνολογίες CMOS μειώνονται (νανοτεχνολογίες) η αποτελεσματικότητα των τεχνικών ελέγχου με παρατήρηση του ρεύματος ηρεμίας (I DDQ ) φαίνεται να περιορίζεται διότι: το ρεύμα διαρροής των τρανζίστορ στην κανονική λειτουργία αυξάνει, ενώ μειώνεται η διαφορά του από το ρεύμα διαρροής παρουσία σφάλματοςτο ρεύμα διαρροής των τρανζίστορ στην κανονική λειτουργία αυξάνει, ενώ μειώνεται η διαφορά του από το ρεύμα διαρροής παρουσία σφάλματος ο αριθμός των τρανζίστορ/chip αυξάνει δραματικά, αυξάνοντας ακόμη περισσότερο το ρεύμα κανονικής λειτουργίαςο αριθμός των τρανζίστορ/chip αυξάνει δραματικά, αυξάνοντας ακόμη περισσότερο το ρεύμα κανονικής λειτουργίας Αποτέλεσμα: Αδυναμία διάκρισης μεταξύ κανονικής και εσφαλμένης λειτουργίας με βάση το ρεύμα διαρροής. Η προταθείσα λύση: Αντιστάθμιση του ρεύματος ηρεμίας κανονικής λειτουργίας ώστε να μπορεί να διακριθεί και μικρή διαρροή ρεύματος λόγω της παρουσίας σφάλματος. Μεθοδολογία: Κατάτμηση του υπό έλεγχο κυκλώματος σε δύο υποκυκλώματα και χρήση του ρεύματος ηρεμίας του ενός για αντιστάθμιση του ρεύματος ηρεμίας του άλλου κατά την εφαρμογή του ελέγχου I DDQ και αντίστροφα. Αντιστάθμιση του ρεύματος ηρεμίας κανονικής λειτουργίας ώστε να μπορεί να διακριθεί και μικρή διαρροή ρεύματος λόγω της παρουσίας σφάλματος. Μεθοδολογία: Κατάτμηση του υπό έλεγχο κυκλώματος σε δύο υποκυκλώματα και χρήση του ρεύματος ηρεμίας του ενός για αντιστάθμιση του ρεύματος ηρεμίας του άλλου κατά την εφαρμογή του ελέγχου I DDQ και αντίστροφα. Για την ανάδειξη της αποτελεσματικότητας της μεθόδου σχεδιάστηκε και κατασκευάστηκε το πειραματικό κύκλωμα του οποίου το διάγραμμα βαθμίδων φαίνεται στο σχήμα. Αποτελείται από: Το υπό έλεγχο ψηφιακό κύκλωμα, το οποίο είναι εσωτερικά χωρισμένο σε δύο υποκυκλώματα.Το υπό έλεγχο ψηφιακό κύκλωμα, το οποίο είναι εσωτερικά χωρισμένο σε δύο υποκυκλώματα. Έναν προγραμματιζόμενο καθρέπτη ρεύματος ο οποίος μπορεί να τεθεί σε 46 καταστάσεις.Έναν προγραμματιζόμενο καθρέπτη ρεύματος ο οποίος μπορεί να τεθεί σε 46 καταστάσεις. Έναν συγκριτή, ο οποίος χρησιμοποιείται σαν αισθητήρας ρεύματος για την ανίχνευση των εσφαλμένων ρευμάτων.Έναν συγκριτή, ο οποίος χρησιμοποιείται σαν αισθητήρας ρεύματος για την ανίχνευση των εσφαλμένων ρευμάτων. Ένα κύκλωμα εξομοίωσης σφάλματος με το οποίο εισάγουμε τεχνητά σφάλματα βραχυκύκλωσης στο υπό έλεγχο κύκλωμα.Ένα κύκλωμα εξομοίωσης σφάλματος με το οποίο εισάγουμε τεχνητά σφάλματα βραχυκύκλωσης στο υπό έλεγχο κύκλωμα. Για την ανάδειξη της αποτελεσματικότητας της μεθόδου σχεδιάστηκε και κατασκευάστηκε το πειραματικό κύκλωμα του οποίου το διάγραμμα βαθμίδων φαίνεται στο σχήμα. Αποτελείται από: Το υπό έλεγχο ψηφιακό κύκλωμα, το οποίο είναι εσωτερικά χωρισμένο σε δύο υποκυκλώματα.Το υπό έλεγχο ψηφιακό κύκλωμα, το οποίο είναι εσωτερικά χωρισμένο σε δύο υποκυκλώματα. Έναν προγραμματιζόμενο καθρέπτη ρεύματος ο οποίος μπορεί να τεθεί σε 46 καταστάσεις.Έναν προγραμματιζόμενο καθρέπτη ρεύματος ο οποίος μπορεί να τεθεί σε 46 καταστάσεις. Έναν συγκριτή, ο οποίος χρησιμοποιείται σαν αισθητήρας ρεύματος για την ανίχνευση των εσφαλμένων ρευμάτων.Έναν συγκριτή, ο οποίος χρησιμοποιείται σαν αισθητήρας ρεύματος για την ανίχνευση των εσφαλμένων ρευμάτων. Ένα κύκλωμα εξομοίωσης σφάλματος με το οποίο εισάγουμε τεχνητά σφάλματα βραχυκύκλωσης στο υπό έλεγχο κύκλωμα.Ένα κύκλωμα εξομοίωσης σφάλματος με το οποίο εισάγουμε τεχνητά σφάλματα βραχυκύκλωσης στο υπό έλεγχο κύκλωμα. Πειραματικό Κύκλωμα: Απόκριση του κυκλώματος παρουσία σφάλματος Το διάγραμμα χρονισμού για τη λειτουργία του κυκλώματοςΗ τοπολογία του φυσικού σχεδίου του κυκλώματος Το φυσικό σχέδιο (layout) του κυκλώματος Το πειραματικό κύκλωμα σχεδιάστηκε και κατασκευάστηκε σε τεχνολογία CMOS 0.18 μm της STMicroelectronics. Αγγελική Αραπογιάννη Τμήμα Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών Πανεπιστημίου Αθηνών Αγγελική Αραπογιάννη Τμήμα Πληροφορικής και Τηλεπικοινωνιών Πανεπιστημίου Αθηνών Γεώργιος Τσιατούχας Τμήμα Πληροφορικής Πανεπιστημίου Ιωαννίνων Γεώργιος Τσιατούχας Τμήμα Πληροφορικής Πανεπιστημίου Ιωαννίνων Salvador Mir ΤΙΜΑ, IMAG Grenoble Salvador Mir ΤΙΜΑ, IMAG Grenoble Με τη μερική υποστήριξη του Προγράμματος MEDEA+ T101 Σχετικές εργασίες: 1)“A New Scheme for Effective IDDQ Testing in Deep Submicron”, Y. TSIATOUHAS, Y. MOISIADIS, TH. HANIOTAKIS, D. NIKOLOS AND A. ARAPOYANNI, Proc. of IEEE Int. Workshop on Defect Based Testing (DBT’00), Montreal, April ) “Extending the Viability of IDDQ Testing in the Deep Submicron Era” Y. TSIATOUHAS, TH. HANIOTAKIS, D. NIKOLOS AND A. ARAPOYANNI, 3rd IEEE ISQED, March ) “A New Technique for IDDQ Testing in Nanometer Technologies” Y. TSIATOUHAS, Y. MOISIADIS, TH. HANIOTAKIS, D. NIKOLOS AND A. ARAPOYANNI, Elsevier Science, INTEGRATION the VLSI journal, vol 31/2, pp , Aug ) “An Embedded IDDQ Testing Architecture and Technique”, Y. Tsiatouhas, Th. Haniotakis and A. Arapoyanni, 4rd IEEE International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED03), pp , March Σχετικές εργασίες: 1)“A New Scheme for Effective IDDQ Testing in Deep Submicron”, Y. TSIATOUHAS, Y. MOISIADIS, TH. HANIOTAKIS, D. NIKOLOS AND A. ARAPOYANNI, Proc. of IEEE Int. Workshop on Defect Based Testing (DBT’00), Montreal, April ) “Extending the Viability of IDDQ Testing in the Deep Submicron Era” Y. TSIATOUHAS, TH. HANIOTAKIS, D. NIKOLOS AND A. ARAPOYANNI, 3rd IEEE ISQED, March ) “A New Technique for IDDQ Testing in Nanometer Technologies” Y. TSIATOUHAS, Y. MOISIADIS, TH. HANIOTAKIS, D. NIKOLOS AND A. ARAPOYANNI, Elsevier Science, INTEGRATION the VLSI journal, vol 31/2, pp , Aug ) “An Embedded IDDQ Testing Architecture and Technique”, Y. Tsiatouhas, Th. Haniotakis and A. Arapoyanni, 4rd IEEE International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED03), pp , March 2003.