ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA

Παρουσίαση με θέμα: "ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA"— Μεταγράφημα παρουσίασης:

1 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ festival znanosti ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA Doc.dr.sc. Ljerka Slokar ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

2 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ Elektronska mikroskopija – za stvaranje slike koristi snop elektrona Elektroni ubrzani u vakuumu imaju svojstva vala - λ(elektrona) je x manja od λ(svjetlosti) 1931.g. Dr. Ruska konstruira prvi elektronski mikroskop (TEM) Nobelova nagrada za fiziku tek 1986.g. -povećanje: 17 x x Vrste elektronske mikroskopije: Scanning elektronska mikroskopija (SEM) Transmisijska elektronska mikroskopija (TEM) Scanning tunelirajuća mikroskopija (STM) Mikroskopija atomskom silom (AFM) Mikroskopija magnetskom silom (MFM)... itd. ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

3 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ Scanning elektronska mikroskopija – za karakterizaciju površine materijala - pomoću scanning elektronskog mikroskopa (SEM) SEM Tescan Vega TS 5136 MM ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

4 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ SEM morfologija i kemijski sastav analiziranog uzorka Prednosti SEM: - rezolucija – mjera za najsitniji detalj koji mikroskop može “vidjeti” - dubina polja - mikroanaliza Prilikom udarca elektrona o površinu uzorka  efekti koji se koriste za dobivanje slike i analizu uzorka: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

5 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ -elektroni povratnog raspršenja  BSE detektor - za proučavanje razlika u kemijskom sastavu uzoraka -sekundarni elektroni  SE detektor - za proučavanje morfologije -kvant energije ili x- zraka  EDS detektor - za određivanje kemijskog sastava uzorka ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

6 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ Priprema uzoraka za SEM analizu: -uzorci moraju biti stabilni u vakuumu -uzorci se lijepe na ljepljivu električno vodljivu grafitnu traku -prema potrebi naparuju se slojem ugljika ili zlata u naparivaču - električna vodljivost uzorka je potrebna da bi se izbjeglo nakupljanje naboja na njegovoj površini, a time i značajna degradacija kvalitete slike. ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

7 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ Primjeri istraživanja metalnih uzoraka pomoću elektronske mikroskopije: NL SEI-200x AlSi11Cu2(Fe) SEI-500x ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

8 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ SEM, EDS i linijska analiza oksidnog uključka Cu13Al3,25Ni legure: Spectrum: CuAlNi-poz2 El AN Series unn. C norm. C Atom. C Error [wt.%] [wt.%] [at.%] [%] O 8 K-series Al 13 K-series Cu 29 K-series Total: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

9 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ Rezultati SEM i EDS analize nemetalnog uključka u mikrostrukturi čelika 350LF2: Spectrum: poz1 El AN Series unn. C norm. C Atom. C Error [wt.%] [wt.%] [at.%] [%] O 8 K-series Al 13 K-series Mg 12 K-series Ca 20 K-series Total: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

10 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ Linijska analiza nemetalnog uključka u mikrostrukturi čelika 350LF2: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

11 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ SEM Cu-Al-Ni (83.04 % Cu, % Al, 4.34 % Ni) legure s prisjetljivosti oblika prije i nakon potenciodinamičke polarizacije: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

12 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ SEM mikrofraktografije kontinuirano lijevane CuAlNi slitine s prisjetljivosti oblika nakon toplinske obrade na 700°C/2'/voda, pri različitim povećanjima: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

13 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ AlSi7Mg, BSE-1200x Sivi lijev, SE-1000x Sivi lijev, SE-5000x ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

14 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ SEM i linijska analiza biomedicinske legure Ti60Nb10Zr30 ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

15 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ SEM uzorka visokopećne ćađe: 1000x x ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

16 ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA
______________________________________________________________________________ Primjenom elektronske mikroskopije u istraživanju metala dobivamo podatke o njihovoj mikrostrukturi, kvalitativnom i kvantitativnom kemijskom sastavu. Hvala ... ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.