Κύρια Βήματα Κατασκευής μίας ράβδου Hall με Οπτική Λιθογραφία. Ευθυγράμμιση διαδοχικών λιθογραφικών επιπέδων.
Fabrication of a Hall bar. Optical Lithography Masks. 1) Alignment Markers 2) Ohmic Contacts 3) Isolation Level
1) Γεωμετρικά σχήματα ευθυγράμμισης διαδοχικών λιθογραφικών επιπέδων 1) Γεωμετρικά σχήματα ευθυγράμμισης διαδοχικών λιθογραφικών επιπέδων. Alignment Markers 2) Ωμικές επαφές ηλεκτρικού ρεύματος και διαμήκους και εγκάρσιας διαφοράς δυναμικού. Ohmic Contacts 3) Υγρή Χημική Εγχάραξη για τον σχηματισμό της ράβδου Hall. Isolation Level.
Κλασικό φαινόμενο Hall Κλασικό φαινόμενο Hall. Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός υλικού με μετρήσεις Hall. Συγκέντρωση φορέων αγωγιμότητας. Συντελεστής Hall.
Κατασκευή τρανζίστορ με την μέθοδο της αυτό-ευθυγράμμισης Κατασκευή τρανζίστορ με την μέθοδο της αυτό-ευθυγράμμισης. Self-aligned process. Λιθογραφικά Επίπεδα. Alignment Markers Isolation Level Gate Level Ohmic Contacts Bonding Pads
Κατασκευή πύλης τρανζίστορ σχήματος Τ. T-gate fabrication. Gate Head Gate Foot
Ohmic contact – Ni/Ge/Au Ohmic contact – Ni/Ge/Au Gate Head Gate Foot Ohmic contact – Ni/Ge/Au Ohmic contact – Ni/Ge/Au In0.53Ga0.47As – Si-doped In0.53Ga0.47As – Si-doped In0.52Al0.48As – spacer layer – undoped – 5 nm In0.52Al0.48As – Schottky layer – un-doped - 20 nm Si δ-doped layer – ND ~ 5x1012 cm-2 + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - In0.53Ga0.47As – quantum well – 30 nm – N2DES ~ 3 x 1012 cm-2 In0.52Al0.48As buffer layer – undoped - 200 μm Semi-insulating InP substrate – Fe-doped – 400 μm