Η παρουσίαση φορτώνεται. Παρακαλείστε να περιμένετε

Η παρουσίαση φορτώνεται. Παρακαλείστε να περιμένετε

Σεμινάρια Φυσικής 2007 Υπεύθυνη : M. Μακροπούλου.

Παρόμοιες παρουσιάσεις


Παρουσίαση με θέμα: "Σεμινάρια Φυσικής 2007 Υπεύθυνη : M. Μακροπούλου."— Μεταγράφημα παρουσίασης:

1 Σεμινάρια Φυσικής 2007 Υπεύθυνη : M. Μακροπούλου

2 2 Μικροσκοπία ατομικής δύναμης (A tomic F orce M icroscopy ) Ικάριος Εμμανουήλ Α.Μ Ικάριος Εμμανουήλ Α.Μ

3 3 Ιστορική αναδρομή Πρώτος αιώνας π.Χ., οι Ρωμαίοι χρησιμοποιούν το γυαλί για να μεγεθύνουν αντικείμενα. Τα πρώτα μικροσκόπια είχαν τη δυνατότητα να μεγεθύνουν κατά 6- 10x οι Δανοί Hans και Zaccharias Janssen ανακαλύπτουν για πρώτη φορά το μικροσκόπιο που αποτελείται από 2 ή περισσότερους φακούς. Ο Γαλιλαίος μαθαίνει τα πειράματά τους, εξηγεί το φαινόμενο και βελτιώνει το μικροσκόπιο ο Anton van Leeuwenhoe, ο «πατέρας της μικροσκοπίας» δημιούργησε μικροσκόπιο με μεγέθυνση έως και 270x με την άνοδο της τεχνολογίας ο Ernst Abbe υπολόγισε πώς θα μπορούσαμε να έχουμε μέγιστη ανάλυση στα μικροσκόπια 1903 ο Richard Zisgmondy έφτιαξε ισχυρό μικροσκόπιο το οποίο δούλευε με την βοήθεια του φωτός 1930 έχουμε τα πρώτα ηλεκτρονικά και οπτικά μικροσκόπια από τον Ernst Ruska που πήρε και βραβείο Νόμπελ το 1986

4 4 Ιστορική αναδρομή Μιλώντας για μικροσκοπία το μυαλό μας θα πήγαινε σε οπτικά ή ηλεκτρονικά μικροσκόπια Κλίμακα διακριτικότητας Οπτικά 1000Χ Ηλεκτρονικά Χ εικόνα μέχρι δύο διαστάσεις Μέσα του 1980 (1986) Ανακάλυψη του AFM Κλίμακα διακριτικότητας έως Χ Βασικό πλεονέκτημα 3 διαστάσεις

5 5 Κατηγορία στην οποία εντάσσεται η μέθοδος Μικροσκοπία Σάρωσης με Ακίδα Scanning probe Microscopy (SPM) Μικροσκοπία ατομικής Δύναμης (AFM) 1986 Μικροσκοπία Πλευρικής δύναμης Lateral force microscopy Μικροσκοπία μαγνητικής Δύναμης Magnetic force microscopy Άλλες μέθοδοι

6 Κοινό στοιχείο των μεθόδων Είναι μέθοδοι οι οποίες βασίζονται στην σάρωση επιφάνειας με διαφορετικές τροποποιήσεις η καθεμία από αυτές

7 S canning P robe M icroscopes - Γενικά 7 χρησιμοποιούνται για την μελέτη επιφανειών και για την μελέτη των ιδιοτήτων του υλικού στη τάξη μεγέθους έως μερικά μικρά Τέτοιου είδους Μικροσκόπια

8 S canning P robe M icroscopes – Τεχνική 8 Ράβδος η οποία πιέζει την ακίδα να “πατάει” καλά στο υλικό Βραχίονας μαζί με την ακίδα Υπολογιστής ο οποίος οδηγεί τον σαρωτή καταγράφει τα δεδομένα και τα μετατρέπει σε εικόνα Όργανο το οποίο φροντίζει για την μέτρηση της κατακόρυφης θέση της ακίδας Το υλικό προς μελέτη Πιεζοηλεκτρικός σαρωτής ο οποίος μετακινεί το υλικό κάτω από την μύτη της ακίδας

9 9 Γενική διάταξη ενός AFM Συνήθως 2 οθόνες στην μια οι ρυθμίσεις και στην άλλη να βλέπουμε τη διαμόρφωση της επιφάνειας

10 10 Contact ModeNon-Contact Mode AFM Contact mode Η σάρωση γίνεται με επαφή της ακίδας και της επιφάνειας προς μελέτη Non - Contact mode Η σάρωση γίνεται χωρίς επαφή της ακίδας και της επιφάνειας προς μελέτη

11 ΔΥΝΑΜΗΣ Μικροσκόπιο Ατομικής ΔΥΝΑΜΗΣ Μετρούνται δυνάμεις ανάμεσα στην ακίδα και στην προς εξέταση επιφάνεια μέσω της μετατόπισης της ακίδας  Van der Waals  Ηλεκτροστατικές  Μαγνητικές  Από επαφή  … 11

12 12 Εξαρτήματα από τα οποία απαρτίζεται η διάταξη – Ακίδα Μέσω της ακίδας ανιχνεύουμε την επιφάνεια του δείγματος Μήκος βραχίονα  μm Πλάτος  μm Πάχος  μm Υλικό  Si ή Si 3 N 4 Ο βραχίονας μπορεί να είναι είτε μονός είτε τριγωνικός (δηλ. με δυο μπράτσα)

13 13 Σημασία μορφής ακίδας Παράδειγμα σε κάποια βακτήρια Μικρή Διάμετρος Ακίδας Μεγάλη Ανάλυση (αιχμηρή μύτη) Βαθιά και στενή μορφολογία (μικρότερη επιφάνεια)

14 14 Εξαρτήματα από τα οποία απαρτίζεται η διάταξη – Laser & Φωτοδίοδος Οι δυνάμεις που αναπτύσσονται μεταξύ της επιφάνειας και της ακίδας προκαλούν στη βάση της ακίδας μια καμπή ή μια απόκλιση. Αυτές οι αποκλίσεις ή οι κάμψεις της βάσης της ακίδας με τη χρήση ενός απλού laser μπορούν να μετρηθούν από έναν ανιχνευτή ( φωτοδίοδο στην συγκεκριμένη περίπτωση)

15 15 Εξαρτήματα από τα οποία απαρτίζεται η διάταξη – Laser & Φωτοδίοδος Έτσι μέχρι τώρα καταφέραμε να σκιαγραφήσουμε τις κάθετες μόνο ανωμαλίες της επιφάνειας μας. Μόνο δηλαδή κατά τον άξονα z. Πως όμως παίρνουμε τρισδιάστατη εικόνα? Χ Υ Ζ

16 16 Εξαρτήματα από τα οποία απαρτίζεται η διάταξη – Πιεζοηλεκτρικός σαρωτής Ο πιεζοηλεκτρικός σαρωτής είναι υπεύθυνος για την καταγραφή της επιφάνειας στους άξονες Χ και Υ Πως γίνεται αυτό;

17 17 Εξαρτήματα από τα οποία απαρτίζεται η διάταξη – Πιεζοηλεκτρικός σαρωτής Ο πιεζοηλεκτρικός σαρωτής μετακινεί την επιφάνεια προς μελέτη κάτω από την αιχμή της ακίδας. Μόλις η αιχμή της ακίδας βρει μια ανωμαλία στην επιφάνεια υπάρχει μια αλλαγή της δύναμης την οποία δέχεται ο πιεζοηλεκτρικός σαρωτής. Οι συντεταγμένες κατά τους άξονες x,y είναι όμως γνωστές από τη θέση του σαρωτή. Μέσω του μηχανισμού ανατροφοδότησης μετρούνται αυτές οι δυνάμεις και μέσω του υπολογιστή δημιουργείται η εικόνα του αντικειμένου μελέτης

18 18 Εξαρτήματα από τα οποία απαρτίζεται η διάταξη – Πιεζοηλεκτρικός σαρωτής Ο σαρωτής είναι κυρίως φτιαγμένος από Ζιρκόνιο και τιτάνιο. Φτιάχνονται πιέζοντας μαζί την σκόνη από τα υλικά και παίρνουμε το μίγμα (την συμπιεσμένη σκόνη). Το αποτέλεσμα είναι ένα πολυκρυσταλλικό σώμα. Καθένας από αυτούς τους κρυστάλλους είναι ένα ηλεκτρικό δίπολο. Σ’ αυτούς βασίζεται και η τάση που παίρνουμε από την πίεση που ασκείται. 10 Α ~ 100 μικρά ή 64 ~ 512 points/line Τυπική σάρωση

19 19 Εφαρμογές 1) Νανοδιατάξεις 2) Πολυμερή υλικά 3) Εύρεση Ελαττωμάτων σε υλικά 4) Μεταλλουργία 5) Αναλύσεις σε οπτικό δίσκο DVD 6) Ανάλυση μεμβρανών 7) Βιοιατρική κ.α.

20 20 Νανοδιατάξεις Μετρούμενα υλικά Νανοκρυστάλλους Νανοσυνθέσεις Νανοεπιφάνειες με κόκκους Νανοαγωγούς Νανοκεραμικά GaAs Carbon Nanotubes

21 21 Πολυμερή υλικά

22 22 Εύρεση Ελαττωμάτων σε υλικά AFM σαν εργαλείο μετρολογίας Ουσιαστικά στην βιομηχανία

23 23 Μεταλλουργία Συχνά στις βιομηχανίες για ανίχνευση καλής ποιότητας των υλικών αναλύοντας χαρακτηριστικά τους Μελετώντας την επιφάνεια των υλικών βρίσκουμε την αντοχή τους και την αντίδρασή τους σε διάφορους εξωτερικούς παράγοντες όπως θερμοκρασία κα. Πλεονεκτήματα Μεγάλη ανάλυση Τρεις διαστάσεις Εύκολο στην χρήση

24 24 Αναλύσεις σε οπτικό δίσκο DVD Αναλύσεις σε επιφάνειες οπτικών δίσκων

25 25 Ανάλυση μεμβρανών

26 26 Βιοιατρική Μελετούνται σε βάθος βακτήρια, κύτταρα, πρωτεΐνες, πολυσακχαρίτες, ιούς DNA Βρίσκονται ανωμαλίες Μορφολογία τους Τρισδιάστατη απεικόνιση

27 27 Φωτογραφίες από AFM

28 Πλεονεκτήματα Τρισδιάστατη «φωτογραφία» 28 Πολύ μεγάλη ανάλυση Μπορούμε να μελετήσουμε υλικά που δεν είναι αγώγιμα Το προς μελέτη υλικό δε χρειάζεται ειδική προεργασία (π.χ. τοποθέτηση μεταλλικού μανδύα που μπορεί να καταστρέψει το δείγμα) Λειτουργεί και σε υδάτινο περιβάλλον (βιολογικά μακρομόρια – ζωντανοί οργανισμοί)

29 Μειονεκτήματα Μέγεθος εικόνας (mm x mm) 29 Η ανάλυση της φωτογραφίας εξαρτάται από την ακτίνα της ακίδας Μικρή ταχύτητα σάρωσης (αρκετά λεπτά) Χρειάζεται απομόνωση από εξωτερικές δονήσεις Χρειάζεται ειδική προετοιμασία για υλικά που μπορεί να παραμορφωθούν από το μικροσκόπιο λόγω της δύναμης που εμφανίζεται. Δεν υπάρχει γενική μέθοδος αλλά κάθε υλικό θέλει ξεχωριστή μελέτη.

30 30 Τέλος παρουσίασης Βιβλιογραφία Pacific Nanotechnology Material Evaluation & Engineering Nuno C. Santos Miguel Castanho Nova scan ΕΙΧΗΜΥΘ Ερευνητικό Ινστιτούτο Χημικής Μηχανικής και Χημικών Διεργασιών Υψηλής Θερμοκρασίας Bioteckol


Κατέβασμα ppt "Σεμινάρια Φυσικής 2007 Υπεύθυνη : M. Μακροπούλου."

Παρόμοιες παρουσιάσεις


Διαφημίσεις Google